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高效检测,微焦透视,卓茂科技X6600 X射线离线检测设备
2025-10-16

在精密制造与电子制造领域,传统检测方式常面临效率低、精度有限及过度依赖人员经验等问题,难以应对复杂内部结构与微小缺陷的快速精准识别,影响产品质量与生产效率。

正基于此,卓茂科技X6600 X射线离线检测设备应运而生。作为一款通用型离线式精密微焦斑X射线智能检测系统,卓茂科技X6600致力于为智能制造提供高分辨率、多角度、大面积的检测支持,助力企业从容应对质量控制中的各类复杂需求。

广泛适用,精准成像

卓茂科技X6600具备高放大倍率与高分辨率成像能力,能够清晰呈现产品内部结构细节,适应从电子元器件到复杂组装件的各类检测对象。

其非晶硅平板探测器配合5.8Lp/mm的分辨率,确保在130mm×130mm的视场范围内,依然可捕捉细微异常,为判断缺陷提供可靠依据。

智能软件,图像增强

设备搭载自研智能检测软件,结合全新图像增强处理及预设滤镜算法,有效优化图像质量,辅助操作人员快速识别目标区域。

自动居中显示与自动跟随功能,进一步简化操作流程,降低人为干预,使检测区域始终处于视野中心,提升检测的一致性与效率。

灵活检测,批量高效

为适应批量检测任务,卓茂科技X6600提供自由点与矩阵两种CNC检测模式,可对同类产品进行快速、标准化扫描。

同时,设备支持多角度分析功能,便于从不同视角观察物体内部结构,为判断裂痕、断线、偏移等复杂缺陷提供多维度信息。

智能分析,自动识别

在缺陷识别方面,卓茂科技X6600可自动识别如尺寸异常、连锡、断线等多种常见工艺问题,并支持全自动气泡比例计算,适用于BGA焊球等精密焊接点的快速评估。检测完成后,系统可自动生成规范化报告,便于数据追溯与分析优化。

针对特定场景,卓茂科技X6600还提供可定制的AI智能检测算法,可根据用户产品的具体特点,开发特定的软件算法,实现全自动缺陷识别检测。

卓茂科技X6600 X射线离线检测设备,以稳健的性能、灵活的配置与智能化功能,为企业质控环节提供可信赖的检测工具,协助企业在提升产品质量与生产效率的道路上稳步前行。